電(diàn)子工(gōng)業過程中(zhōng)産(chǎn)生靜電(diàn)危害的情況主要包括半導體(tǐ)器件和集成電(diàn)路生産(chǎn)、電(diàn)子元件的搬運、安(ān)裝(zhuāng)、調試及檢驗過程。
在半導體(tǐ)器件和集成電(diàn)路生産(chǎn)行業中(zhōng)，由于這些器件具(jù)有(yǒu)導線(xiàn)間距短、線(xiàn)細、集成度高、運算速度快、低功率和輸入阻抗高的特點，因此對靜電(diàn)越來越敏感。靜電(diàn)放電(diàn)是導緻元器件擊穿危害和對電(diàn)子設備的運行産(chǎn)生幹擾的主要原因。在電(diàn)子産(chǎn)品的生産(chǎn)過程中(zhōng)，從元器件的預處理(lǐ)、安(ān)裝(zhuāng)、焊接、清洗、至單闆測試、總測、直到包裝(zhuāng)、儲存、發送等工(gōng)序，都可(kě)能(néng)産(chǎn)生對器件的靜電(diàn)放電(diàn)擊穿危害。因此，靜電(diàn)防護在電(diàn)子制造過程中(zhōng)顯得尤為(wèi)重要。
除了生産(chǎn)過程，電(diàn)子元件在搬運過程中(zhōng)也可(kě)能(néng)因為(wèi)摩擦、振動或沖擊産(chǎn)生ESD損害。這種損害包括即時失效和延時失效，前者指一次性造成電(diàn)子元器件介質(zhì)擊穿或燒毀的永久性失效，後者則可(kě)能(néng)導緻器件性能(néng)劣化或參數指标下降，仍可(kě)能(néng)通過所有(yǒu)檢驗和測試，但在使用(yòng)過程中(zhōng)會過早出現故障和失效。
電(diàn)子元件的安(ān)裝(zhuāng)、調試及檢驗過程中(zhōng)，如果不消除靜電(diàn)，将會影響生産(chǎn)或降低産(chǎn)品質(zhì)量。尤其是在電(diàn)子設備的故障或誤動作(zuò)方面，靜電(diàn)放電(diàn)可(kě)能(néng)引起電(diàn)磁幹擾，影響生産(chǎn)效率。此外，靜電(diàn)放電(diàn)還可(kě)能(néng)導緻集成電(diàn)路和精(jīng)密電(diàn)子元器件發生故障或促進元器件老化，降低産(chǎn)量。
綜上所述，電(diàn)子工(gōng)業過程中(zhōng)，從半導體(tǐ)器件和集成電(diàn)路的生産(chǎn)到電(diàn)子元件的搬運、安(ān)裝(zhuāng)、調試及檢驗等各個環節，都存在靜電(diàn)危害的可(kě)能(néng)性，因此采取有(yǒu)效的靜電(diàn)防護措施至關重要
